線材測(cè)徑儀為什么采用高頻測(cè)量模式?

線材測(cè)徑儀是應(yīng)用于高速生產(chǎn)線上的測(cè)量設(shè)備，測(cè)量頻率越大，檢測(cè)的點(diǎn)數(shù)越大，發(fā)現(xiàn)缺陷的幾率越大，因此將線材測(cè)徑儀制成高頻測(cè)量模式。
高速線材測(cè)徑儀的測(cè)量精度及測(cè)量頻率直接影響到被測(cè)軋材的檢測(cè)力度，所以，在使用高速在線測(cè)徑儀的時(shí)候一定要注意測(cè)量精度的影響。
 
當(dāng)測(cè)量高速運(yùn)動(dòng)的物體時(shí)，被測(cè)物會(huì)產(chǎn)生不規(guī)則的高頻抖動(dòng)。如果測(cè)頭的測(cè)量頻率低，在CCD芯片掃描的時(shí)段內(nèi)，CCD芯片上的影像就會(huì)出現(xiàn)虛影或影像的重疊，會(huì)導(dǎo)致測(cè)量系統(tǒng)讀取的數(shù)據(jù)與被測(cè)物的實(shí)際尺寸不符。測(cè)量頻率越高，芯片的掃描時(shí)段越小，虛影或影像的重疊也就越小，所以測(cè)量頻率越高測(cè)量精度越高。以軋制速度為100m/s的高速線材為例：當(dāng)測(cè)量頻率為100 Hz時(shí)，采樣間隔為1米，即每米測(cè)量1個(gè)點(diǎn)；當(dāng)測(cè)量頻率為500 Hz時(shí)，采樣間隔為0.2米，即每米測(cè)量5個(gè)點(diǎn)。顯然高頻率的測(cè)量系統(tǒng)更容易檢測(cè)出被測(cè)物的外輪廓缺陷。影響采樣間隔和單位長(zhǎng)度內(nèi)的測(cè)量點(diǎn)數(shù)。
線陣CCD芯片像元分辨率為4.7um,光路系統(tǒng)的物像比為1.5:1。因此，若不計(jì)光路誤差精度可達(dá)7.05um。在實(shí)際使用過(guò)程中，測(cè)徑儀的測(cè)量誤差主要是由光路系統(tǒng)誤差和被測(cè)物的高頻抖動(dòng)造成的。經(jīng)過(guò)多次實(shí)驗(yàn)和檢測(cè)，測(cè)徑儀在靜態(tài)量時(shí)誤差不大于±0.01mm；在動(dòng)態(tài)測(cè)量時(shí)誤差不大于±0.02mm。
線材測(cè)徑儀非常適用于各種軋鋼的高速檢測(cè)，速度快、更全面、實(shí)時(shí)性好，是高質(zhì)量生產(chǎn)中的必備設(shè)備之一。

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