el測試儀器、組件el測試儀高精度缺陷檢測

EL140S-M EL缺陷檢測儀 
適用于電池片和組件，可檢測缺陷包括： 
■裂片 
■微隱裂 

■破洞 
■斷柵 
■短路 
■印刷不良 
■工藝污染等缺陷。 
■  超大靶面CCD，靶面尺寸達(dá)到15  ×25mm，是普通CCD靶面的6倍 ■鏡頭尺寸達(dá)到∮52mm,是普通工業(yè)鏡頭進(jìn)光面積的5-8倍 
■  超低制冷溫度，*低可達(dá)-50  ℃，完全消除背景噪聲 
■積分式低制冷型紅外增強CCD，950nm紅外光透過率達(dá)到97% 
■非魚眼型鏡頭，避免了魚眼鏡頭產(chǎn)生的圖像扭曲、圖像變形、邊緣陰暗等缺陷，消除了此項重要誤差 
■  功能強大的軟件，品質(zhì)可靠的硬件，確保產(chǎn)線無故障生產(chǎn)運行。 
■  操作簡便，功能齊備，確保儀器全面解決各種缺陷檢測 
■  儀器細(xì)節(jié)設(shè)計**美，消除人為誤操作因素 
■  強大的軟件功能，實現(xiàn)自動判別缺陷，自動報警，不合格圖像單獨存儲 
■人工判別與自動判別相結(jié)合，可找出組件細(xì)微缺陷，實現(xiàn)全方位檢測。 
■全自動檢測---與產(chǎn)線結(jié)合，自動進(jìn)樣、自動定位、自動加電、自動檢測、自動存儲、自動檢測、自動出樣回歸產(chǎn)線。實現(xiàn)組件無任何人工操作，避免人為損壞組件。 
■鼠標(biāo)隨動顯示，任意指向目標(biāo)位置，操作快速簡便 
■*大檢測尺寸可達(dá)        2200mm×1200mm   
■成像時間：0  ~  5000毫秒  可調(diào)節(jié)   
■圖像有效像素：不小于1200萬像素   
■CCD制冷溫度：達(dá)到-50°C 
■CCD靶面尺寸：不小于25  mm  ×  15  mm   
■鏡頭尺寸：大尺寸進(jìn)光鏡頭，鏡頭直徑不小于∮52mm     
■可選配：光強度分布分析檢測系統(tǒng)可以三維圖像方式，直觀、精確地生成各部分發(fā)光強度分布圖，并標(biāo)出光強精確數(shù)值。對各部分發(fā)電效率一目了然。

公司名稱：武漢三工光電設(shè)備制造有限公司

公司地址：湖北武漢東湖新技術(shù)開發(fā)區(qū)武漢大學(xué)科技園武大園四路

公司官網(wǎng)：http://www.sunic.com.cn

測試分選：http://www.sunic.org

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