EL缺陷測(cè)試儀

                   EL缺陷測(cè)試儀
產(chǎn)品特點(diǎn)
進(jìn)口關(guān)鍵部件：采用原裝進(jìn)口紅外相機(jī)，*保*了設(shè)備的整體品質(zhì)。
全封閉式光路設(shè)計(jì)：封閉式光路設(shè)計(jì)可*保*設(shè)備長(zhǎng)期穩(wěn)定運(yùn)，更好的適應(yīng)不同的使用環(huán)境
強(qiáng)大專用測(cè)試軟件：全中文顯示界面，可自動(dòng)手動(dòng)掃描圖形碼編號(hào)并按編碼進(jìn)行文件保存?？煞糯髵呙鑸D像顯示細(xì)節(jié)，方便判斷。
EL缺陷測(cè)試儀應(yīng)用范圍
該設(shè)備用于檢測(cè)太陽(yáng)能電池組件有無(wú)隱裂、碎片、虛焊、斷柵及不同轉(zhuǎn)換效率單片電池異?，F(xiàn)象。

設(shè)備主要參數(shù)

型號(hào)規(guī)格 EL140S-M

有效測(cè)試面積 1200mm X 2100mm

分辨率 140萬(wàn)像素或600萬(wàn)像素

靈敏度 可檢測(cè)出裂紋寬度小于0.2μm

測(cè)試時(shí)間 1s—60s自由設(shè)定

測(cè)試方式 無(wú)接觸式

電源參數(shù) 單相220V 10A *大加載電壓80V，*大加載電流 10A

配置 測(cè)試機(jī)臺(tái)（含紅外成像儀）、電腦、專業(yè)軟件

EL缺陷測(cè)試儀檢測(cè)原理

電致發(fā)光亮度正比于少子擴(kuò)散長(zhǎng)度：

對(duì)太陽(yáng)能電池加載電壓后，使之發(fā)光，再利用紅外成像儀攝取其發(fā)光影像，因電致發(fā)光亮度正比于少子擴(kuò)散長(zhǎng)度，缺陷處因具有較低的少子擴(kuò)散長(zhǎng)度而發(fā)出較弱的光，從而形成較暗的影像。

有效定位缺陷類型：

通過(guò)對(duì)產(chǎn)品缺陷圖像的觀察，可以有效的發(fā)現(xiàn)硅片、擴(kuò)散、刻蝕、印刷、燒結(jié)等工藝過(guò)程存在的問(wèn)題